什么是x-射线荧光分析？

X-射线荧光分析(x射线荧光分析)的方法的物理分析，从而直接确定的几乎所有的化学元素粉末液体和固体材料。

使用的方法

这一方法是通用的，因为它是基于快速和简单的样本准备。 方法广泛存在的行业，在该领域的科学研究。 荧光X射线分析的方法拥有巨大的可能性，并可用于非常复杂的分析的不同的环境目的，以及进行质量控制制造的产品以及分析成品和原材料。

历史

X-射线荧光分析第一次描述在1928年由两个科学家-Pokeroom和Schreiber. 该装置本身就是创建的，只有在1948年科学家弗里德曼和伯克. 作为一个探测器，他们采取了盖革计数器，这显示了高灵敏度有关的原子序数的核心元件。

氦或真空环境的方法的研究被用于1960年。 使用它们确定的轻元素。 还开始使用晶体的氟化锂。 用他们作为衍射。 铹和铬管被用于激励波长范围。

Si(Li)锂-漂硅检测器发明了在1970年。 它提供了高灵敏度，并不需要使用模具。 然而，能源解决这个设备是更糟。

自动化的分析部分和控制的进程被传送到机器随着计算机。 控制进行与一个小组在装置或计算机键盘。 文书进行分析成为这样受欢迎，他们包括在特派团垫;也是阿波罗15"和垫;也是阿波罗16号;.

的时刻空间站和船舶发射进入空间，配有这些设备。 这可以让你来确定和分析的化学组成岩石的其它行星。

的方法

的实质x射线荧光分析是一个物理分析。 分析这个方法作为坚实的机构(玻璃金属、陶瓷、煤炭、石、塑料)和液体(原油、汽油、溶剂、油漆、葡萄酒和血液)。 该法允许确定非常小浓度水平的ppm(百万分之一). 大，高达100%的样本，也适合进行研究。

这一分析是快速、安全和无损于环境。 它具有高度的可重复性和准确性的数据。 该法允许POLYOLESTER，定性和定量检测的所有元素的样本。

的性质的荧光x射线分析的方法是简单和直接的。 如果你离开的术语一边，并试图解释更加容易，事实证明。 这项研究是根据比较的辐射，它是通过辐照的原子.

有一套标准的数据，已知的。 比较结果用这些数据，科学家们的结论是什么组成的探测样本。

的简单性和无障碍的现代设备允许其使用在水下探测、空间探索的各种研究领域的文化和艺术。

的工作原理

这种方法是基于分析的光谱，其获得通过的方法接触到的材料审查，x-射线。

在曝光，原子变成一个激动的状态，这是伴随着过渡的电子在量子层级较高的顺序。 在这种状态的原子是一个非常短的时间，大约1微秒，然后回到其基本的国家(一个轻松状态)。 这时，子的外壳填补的空缺，或空出的空间，并将多余的能量光子的形式，或者转移能量到其他电子在外壳(称为年龄电子)。 在这个时候，每一个原子分配的光电子，其能源是一个严格的价值。 例如，铁期间照射x射线发出的光子，等于α，或6.4凯文。 因此，数量和能量来判断的物质的结构。

辐射源

X-射线荧光分析方法的金属来源，愈合使用的同位素的各种因素，以及x射线管。 在每个国家都有不同的要求出口进口发射同位素分别在生产这种设备的更喜欢使用的x-射线管。

这样的手机都可与铜、银、铑、钼或其他极。 在某些情况下，在阳极可以选择取决于该任务。

当前电压的强度和用于不同的项目是不同的。 轻的元素，它是足够的探索，与10千伏电压，重的40-50千伏，平均为20-30kV。

在研究的轻元素的产生巨大的影响频谱已经对周围的气氛。 为减少这种影响的样品的特别分庭，安置在一个真空或者填补空间氦气。 兴奋的范围寄存器特别设备检测器。 如何高光谱分辨率为探测器取决于准确性的分离的光子的不同的元素。 现在最准确的是，该决议在123eV。 荧光X射线分析的设备与这种范围的花费为100%。

后的光电子已经变成了一个压脉冲，这是计数的特别计数电子产品，这是传送到计算机。 峰的频谱，这给了x射线荧光分析，很容易定性地确定哪些要素BB吃的研究样品。 为了准确地确定量化的内容，已获得一定范围的研究，在一个特殊的校准程序。 该方案是建立在推进。 为此目的，测试的样本，其组成是提前知道有较高的精度。

简单地说，光谱的物质正在研究是基本相比有所周知的。 因此，获得信息组成的问题。

设施

X-射线荧光分析方法使分析：

<李>样，大小或重量的可忽略不计(量100-0,5毫克);<李>显着减少的限制(降低1-2个比X);<李〉的分析由于变化的能源量程。

样的厚度，这是研究，不应该超过1毫米。

的情况下这样品大小可以抑制的辅助进程的样本，其中包括：

<李>多个康普顿散，在这光mastrich极大地扩展了峰；<李>的轫致的光电子(给出的贡献背景的高原);<李>激励元之间，并吸收荧光， 这需要跨件正在处理的图谱。

的这个方法的缺点

的一个最大的缺点是复杂性，伴随着制薄样品，以及严格要求的结构材料。 对于所研究样本应该很小的分散和高的同质性。

的另一个缺点是,方法是紧密相连的标准(参考样品)。 这样的特征所固有，所有的非破坏性方法。

使用的方法

X-射线荧光分析是广泛存在许多领域。 它不仅用于科学或工业，而且还在文化和艺术。

用于：

<李>环境保护和生态测定土壤中的重金属，并探测到它们在水中、沉积物、以及各种气雾剂产品；<李>矿物学和地质学进行定量和定性分析的矿物、土壤和岩石;<李>化学工业和冶金、他们控制的质量原材料、成品和制造过程；<李>油漆和涂料行业的分析svintsovy漆；<李>的珠宝行业的测量浓度的宝贵金属；<李>石油工业，确定污染的程度，石油和燃料；<李>食品行业确定的有毒金属的食品和配料；<李>农业的分析微量元素在不同的土壤和农业产品；<李>考古-进行有限的元素分析以及约会的调查结果；<李>的技术进行研究的雕塑、绘画作品，进行检查的项目和分析。

Mostovskoe和解

X-射线荧光分析GOST28033-89的规定自1989年以来。 该文件阐明了所有的问题有关的程序。 尽管多年来已经有许多步骤，争取改进的方法，该文件仍然是相关的。

根据GOST设定比例的股份的调查材料。 数据显示在表。

<他们>表1。 比质量分数

确定

质量分数，%

硫

0.002至0.20

硅

"点0,05"的5.0

钼

"点0,05"10,0

钛

"在0,01"的5.0

钴

"点0,05"20,0

铬

"点0,05"35,0

铌

"在0,01"2,0

锰

"点0,05"20,0

钒

"在0,01"的5.0

钨

"点0,05"20,0

磷

"0,002"0,20

使用的设备

X-射线荧光谱分析进行了使用特殊的设备、方法和工具。 在使用技术和材料在客人名单：

<李>的多道光谱仪和扫描；<李>机磨磨(磨，型3Б634);<李>表面磨机(型号3Е711В);<李>螺切割机床(模型16П16).<李>切割光盘(GOST21963);<李>Elektrokorundovye砂轮(陶瓷粒大小为50、硬度ST2，GOST2424);<李>砂布打磨(纸张、第2类、型号和BS-140(L6),博西-240(P8),БШ200(R7)，electrocorundum正常，砂砾50-12，GOST6456);<李>技术乙醇(纠正的精神，GOST18300);<李>氩-甲烷混合物。

GOST承认，可能有用的其他材料和设备，这将提供准确的分析。

编制和选择的样本，根据GOST

X-射线荧光分析的金属之前分析涉及一个特别编制的样品进行进一步的研究。

培训进行适当的顺序：

<李>面，将照射，锐化。 如果有必要，请用酒精。<李>谱仪的准备工作根据的使用说明。<李>研究x-射线光谱仪的使用标准样品，这相当于GOST8.315. 用于校准可以使用一种均匀的样品。<李>主校准进行的至少五倍。 当这样做是在操作的质谱仪，在不同的日子。<李>当重新校准能够使用两个系列的校准。

结果的分析和处理

方法x-射线荧光分析根据GOST涉及的性能两个行平行的测量，分析的信号，每个元素受到控制。

使用的价值表达的分析结果和差异的平行的测量。 单位的测量规模表示获得的数据Gradirovsky特性。

如果你假设的差异超过平行的维度，分析必须重复。

这也是能够进行一次测量。 在这种情况下，平行的两个尺寸相对于一个样本的测试批。

的最终结果的算术平均值的两个裁决同时进行，或结果的唯一测量。

的依赖的结果对试样的质量

<跨>为rentgenofluorestsentnogo分析的限制是相对的，只要该物质，其中揭示了该元素。 对于不同物质的框架，用以定量检测的不同的元素。

<跨>

<跨>重要的作用可以发挥原子的数量，这是元素。 其他条件不变的情况下更难以确定的轻元素，并重更加容易。 此外，同一件是容易确定在光线矩阵，不重。

<跨>因此，该方法的质量取决于样品，只在某种程度上，它可能包含的元素其组成。